Effect of Ar pressure on phase transition characteristics and charge transport mechanism in VO2 films grown by RF sputtering of V2O5

已完结

10 由用户kC7Qwi 发布于 2026-09-02 18:16

DOI:10.1088/1402-4896/ad3692

作者： Akash Kumar Singh, H. K. Singh, P. K. Siwach

文献类型：期刊论文

补充材料： 只需要正文

文献链接： https://doi.org/10.1088/1402-4896/ad3692

其它数据库

应助信息

2026-09-02

一起互助吧

已采纳

2026-09-02

文献港机器人

2026-09-02 18:16:38 未找到该文献，机器人已退出，请等待人工下载

2026-09-02 18:16:38 文献港机器人收到请求，开始寻找文献

2026-09-02 18:16:38 已向机器人发送请求

2026-09-02

用户kC7Qwi

发布求助